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(2)資管人看SPC:統計製程管制圖種類與情境

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管制圖種類有分計量型和計數型。
計量型:適用於可連續量測的數據(如長度、重量、溫度、濃度等等)
計數型:適用於離散型數據(如不良品數、缺點數等等)
以下列出適用情境:


計量型

名稱 中文名稱 適用情境
XBar-R 平均值-全距管制圖 小樣本分組量測
XBar-S 平均值-標準差管制圖 較大樣本分組量測
XMed-R 中位數-全距管制圖 使用各組中位數與極差監控製程
I-MR 個別值-移動全距管制圖 每個時間點僅有一筆連續型量測值,無法合理分組時

參考資料來源:

https://itl.nist.gov/div898/handbook/pmc/section3/pmc321.htm
https://www.itl.nist.gov/div898/handbook/pmc/section3/pmc322.htm
https://www.qimacros.com/control-chart/x-median-r-chart/

計數型

名稱 中文名稱 適用情境
P-Chart 不良率管制圖 監控不良品比例,允許各組樣本數不同
NP-Chart 不良品數管制圖 監控不良品數量,通常要求各組樣本數固定
C-Chart 缺點數管制圖 固定檢驗數或範圍下,監控缺點數量
U-Chart 單位缺點數管制圖 監控每單位缺點數,適用於檢驗單位數或機會不同的情況

參考資料來源:

https://www.itl.nist.gov/div898/software/dataplot/refman1/ch2/pcontrol.pdf
https://itl.nist.gov/div898/software/dataplot/refman1/auxillar/contchar.htm
https://www.itl.nist.gov/div898/handbook/pmc/section3/pmc331.htm
https://itl.nist.gov/div898/handbook/pmc/section3/pmc33.htm

下一篇再來看看各管制圖種類的詳細介紹。

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