製造企業開啟工業4.0，導入智慧製造的過程中，設備資料分析是十分重要的一個模塊，是提高生產效率，降低生產成本，合理安排生產，以及保障生產安全的基礎。我們邀請到京元電子資訊整合副理 Winnie，帶我們走進設備數據分析，觀察Probe Card / Tester v.s Probe Card每週DC變化。

報名管道：Accupass

活動介紹

【課程大綱】

課程主題：Probe Card DC分析

報表目的：觀察Probe Card / Tester v.s Probe Card每週DC變化

圖表種類：散點圖

觀察因子：Tester、Probe Card

實現效果：4軸散點分析圖

FineReport報表功能點：

父子格設定
圖表坐標軸靈活使用
參數聯動過濾
超連結-動態參數
發佈平台及定時調度

【講師介紹】

京元電子 資訊整合副理 Winnie

【活動時間】

2019-09-28(六) 13:30 ~ 16:30 (GMT+8)加入行事曆

【活動地點】

台灣台北市大安區忠孝東路四段107號9樓，赫綵設計學院-東區學院 (捷運板南線忠孝敦化站 7號出口(步行5分鐘))

【相關連結】

FineReport官網

【聯絡方式】

Facebook臉書：FineReport報表軟體

FineReport官網：http://www.finereport.com/tw/

手機：0933-790886 王人賢 Brian Wang

郵箱：brian.wang@fanruan.com

【產品介紹】

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